X-4顯微熔點(diǎn)儀 用途
物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時(shí)的溫度蓬勃發展。在有機(jī)化學(xué)領(lǐng)域中作用，熔點(diǎn)測定是辨認(rèn)該物質(zhì)本性的基本手段重要意義，也是純度測定的重要方法之一。
目視顯微熔點(diǎn)測定儀是研究意見征詢、觀察物質(zhì)在加熱狀態(tài)下的形變組成部分、色變及物質(zhì)三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化過程的有力檢測手段。
本儀器可用載波片方法測定物質(zhì)的熔點(diǎn)集聚、形變高效化、色變等；也可用藥典規(guī)定的毛細(xì)管方法測其熔點(diǎn)新的動力，尤其對深色樣品完成的事情，如醫(yī)藥中間體、顏料為產業發展、橡膠促進(jìn)劑等的熔點(diǎn)研究成果，并能自始自終觀察到其熔化的全過程。 
X-4顯微熔點(diǎn)儀 特點(diǎn)
1. 本儀器使用毛細(xì)管法進(jìn)行測量穩定。申請?zhí)枺?1132251 9
2. 根據(jù)特殊要求機製性梗阻，本儀器也可用載波片——載波片法進(jìn)行測量。
3. 本儀器采用LED數(shù)字顯示熔點(diǎn)溫度值廣泛關註。
4. 本儀器采用熱臺控制系統(tǒng)和顯微鏡組合成一體的結(jié)構(gòu)改造層面，簡單可靠，使用方便各項要求。
5. 升溫速率連續(xù)可調(diào)大面積。我們建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點(diǎn)的溫度值，在*次使用時(shí)記錄下1℃/分的升溫速率時(shí)的波段開關(guān)和電位器的編號優勢與挑戰，則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率集成應用。并請注意（1）室溫的影響；在同樣波段開關(guān)和電位器的編號下部署安排，室溫越低競爭激烈，升溫速率越慢。（2）電子元件的影響：電子元件的老化效果，升溫速率一定時(shí)，其電位器的編號會有所變化技術，只要進(jìn)行微調(diào)即可改善。編號越大，升溫速率越快結構重塑。  
主要技術(shù)參數(shù)
1. 顯微鏡采用4倍物鏡推廣開來，10倍目鏡
2. 測量范圍：室溫∽320℃
3. 測量精密度：室溫∽200℃的誤差±1℃
200℃∽320℃的誤差±2℃
4. 電源220V 50HZ 功率80W